繞組直流電阻測(cè)試的對(duì)象,包含套管導(dǎo)電部分、引線、繞組以及分接開(kāi)關(guān)等整個(gè)回路,因此繞組直流電阻的異常情況也與上述各個(gè)部分的結(jié)構(gòu)以及制造、檢修環(huán)節(jié)有關(guān),分析和處理這種缺陷需要了解套管導(dǎo)電密封頭的結(jié)構(gòu)、引線和繞組的連接方式和制造工藝、分接開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)和動(dòng)作原理等等,結(jié)合各種測(cè)試數(shù)據(jù),進(jìn)行綜合的分析和判斷。
繞組直流電阻的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量數(shù)據(jù),要與歷史數(shù)據(jù),特別是出廠試驗(yàn)數(shù)據(jù)或交接試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)。由于繞組的溫度會(huì)影響測(cè)量的結(jié)果,因此,需要將兩次測(cè)量的數(shù)據(jù)折算到同一溫度下,然后再進(jìn)行比對(duì)。
繞組直流電阻異常通常分為兩種情況:
第一種情況:同一溫度下,各相繞組直流電阻的初值差異常;
第二種情況:同一溫度下,各相繞組的互差異常。
不管是那一種情況,對(duì)于檢修人員來(lái)說(shuō),需要結(jié)合試驗(yàn)數(shù)據(jù)的特征,以及相關(guān)信息,判斷數(shù)據(jù)異常的原因,找到缺陷點(diǎn),并進(jìn)行修復(fù)。
帶分接開(kāi)關(guān)的繞組,回路連接環(huán)節(jié)較多,容易出現(xiàn)問(wèn)題,本章中重點(diǎn)進(jìn)行了說(shuō)明。
缺陷信息收集
對(duì)于不帶分接開(kāi)關(guān)的低壓繞組,檢修人員應(yīng)該查閱變壓器出廠說(shuō)明書(shū),確定繞組和引線的連接方式,必要時(shí)將變壓器油撤到手孔以下,打開(kāi)手孔檢查繞組與引線的連接是否松動(dòng)。
對(duì)于帶有載分接開(kāi)關(guān)的高壓繞組,導(dǎo)電回路構(gòu)成環(huán)節(jié)比較多,故障點(diǎn)的排查也相對(duì)更為復(fù)雜一些,檢修人員應(yīng)該盡可能多的收集信息,輔助判斷缺陷的原因,應(yīng)該收集的信息包括:
1、繞組套管的制造廠和套管代號(hào)、導(dǎo)電密封頭的結(jié)構(gòu)
2、如果回路中包含有載開(kāi)關(guān),應(yīng)核對(duì)有載開(kāi)關(guān)的制造廠名和開(kāi)關(guān)型號(hào),檢查有載開(kāi)關(guān)動(dòng)作次數(shù),詢問(wèn)運(yùn)行人員有載開(kāi)關(guān)經(jīng)常性調(diào)壓分接范圍
3、如果回路中包含無(wú)載開(kāi)關(guān),應(yīng)核對(duì)無(wú)載開(kāi)關(guān)的制造廠名和開(kāi)關(guān)型號(hào),查閱出廠說(shuō)明 書(shū),確定開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)
4、查閱檢修記錄,近期是否有涉及套管、有載或無(wú)載開(kāi)關(guān)的檢修工作
5、查閱巡視記錄,近期的紅外成像儀檢測(cè)是否發(fā)現(xiàn)接頭過(guò)熱缺陷
6、查閱變壓器出廠說(shuō)明書(shū),確定繞組和引線的連接方式
缺陷原因分析判斷
1、不帶分接開(kāi)關(guān)的繞組直流電阻試驗(yàn)。
不帶分接開(kāi)關(guān)的繞組導(dǎo)電回路主要由繞組、引線和出線接線端子構(gòu)成。繞組和引線之間一般采用接線板對(duì)接,螺栓緊固的方式進(jìn)行連接,導(dǎo)電接觸面大,連接方式可靠。
一旦出現(xiàn) 某一相的低壓繞組異常,檢修人員應(yīng)首先檢查接線端子是否松動(dòng)或開(kāi)裂。如果接線端子正常, 那么很有可能是繞組和引線連接板接觸不良,必要時(shí)撤油至低壓接線手孔,打開(kāi)手孔蓋板, 檢查繞組和引線的連接情況。
2、帶分接開(kāi)關(guān)的高壓繞組直流電阻試驗(yàn)。
這種情況下,構(gòu)成導(dǎo)電回路的結(jié)構(gòu)元件比較復(fù)雜,包含繞組、引線、分接開(kāi)關(guān)、套管導(dǎo)電密封頭、接線端子等,其中,分接開(kāi)關(guān)和套管導(dǎo)電密封頭的結(jié)構(gòu)最為復(fù)雜,也經(jīng)常出現(xiàn)接 觸不良,導(dǎo)致繞組的直流電阻數(shù)值超標(biāo)。
當(dāng)發(fā)生繞組直流電阻異常缺陷時(shí),通常會(huì)出現(xiàn)以下 8 類缺陷特征,每類缺陷特征分別對(duì)應(yīng)著一個(gè)或多個(gè)成因。
1、套管的導(dǎo)電密封頭接觸不良。這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1)在所有分接位置上,某相繞組的直流電阻數(shù)值都明顯偏大;
(2)套管的導(dǎo)電密封頭結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,容易出現(xiàn)接觸不良的情況。
2、零點(diǎn)套管的導(dǎo)電密封頭接觸不良。這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1)在所有分接位置上,三相繞組的直流電阻數(shù)值都明顯偏大;
(2)零點(diǎn)套管的導(dǎo)電密封頭結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,容易出現(xiàn)接觸不良的情況。
3、切換開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)原因造成直流電阻異常缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1)直阻測(cè)試數(shù)據(jù)不穩(wěn)定,級(jí)差沒(méi)有規(guī)律。
(2)切換開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,但經(jīng)常出現(xiàn)問(wèn)題的部分主要是觸頭組和面板,觸頭組的電氣連接部分和觸頭組與面板的接觸部分容易出現(xiàn)接觸不良,導(dǎo)致接觸電阻或直流電阻超標(biāo)。
4、切換開(kāi)關(guān)單數(shù)觸頭或雙數(shù)觸頭接觸不良,導(dǎo)致直阻異常。 這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1) 在奇數(shù)分接位置(或偶數(shù)分接位置)上繞組的直流電阻數(shù)值整體偏大,然而在偶 數(shù)分接位置(或奇數(shù)分接位置)上數(shù)值正常。
5、選擇開(kāi)關(guān)觸頭接觸不良造成的直流電阻異常,選擇開(kāi)關(guān)主要涉及引線與開(kāi)關(guān)的連接問(wèn)題、開(kāi)關(guān)動(dòng)觸頭和定觸頭的接觸問(wèn)題,這兩個(gè)問(wèn) 題容易引起接觸不良、直流電阻超標(biāo)。這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1)在某一個(gè)固定的分接位置上,繞組直阻偏大,在其他位置上,數(shù)值合格;
(2)如果是正反調(diào)壓方式,上下半?yún)^(qū)對(duì)應(yīng)的分接位置出現(xiàn)同時(shí)偏大的現(xiàn)象。
6、極性開(kāi)關(guān)接觸不良導(dǎo)致的直流電阻異常。這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1)正反調(diào)壓的有載開(kāi)關(guān),上半?yún)^(qū)和下半?yún)^(qū)直阻數(shù)據(jù)相比某半?yún)^(qū)直阻整體偏大,級(jí)差比較穩(wěn)定;
(2)粗細(xì)調(diào)壓的有載開(kāi)關(guān),在整定位置與上下相鄰位置級(jí)差變化較大,與歷史數(shù)據(jù)相比整體偏大。
7、引線和繞組的異常情況導(dǎo)致的直阻異常 這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1)某相繞組整體偏大,且級(jí)差均勻;
(2)該相套管結(jié)構(gòu)經(jīng)檢查緊固到位且接觸良好,直接將測(cè)試線接在引線頭上測(cè)量, 直阻仍然偏大,且級(jí)差均勻;
(3)用手晃動(dòng)引線,再進(jìn)行測(cè)試,繞組直流電阻數(shù)據(jù)可能發(fā)生明顯變化。
8、無(wú)載分接開(kāi)關(guān)接觸不良導(dǎo)致的直阻異常 這種情況下,缺陷現(xiàn)象應(yīng)該具有如下特征:
(1) 導(dǎo)電回路中包含無(wú)載分接開(kāi)關(guān)
(2) 某相繞組直流電阻偏大;
(3) 無(wú)載分接開(kāi)關(guān)位置指示顯示位置不正;